クロスセクションポリッシャ

日本電子製IB-19510CP型

クロスセクションポリッシャ

クロスセクションポリッシャは、走査電子顕微鏡(SEM)、電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)、オージェマイクロプローブ(Auger)のための断面試料作製装置です。
この装置はブロードなAr+イオンビームと遮蔽(しゃへい)板を用いて試料の断面を加工する断面試料作製装置です。これまで経験を必要とした他の手法に比べ、個人差が無く質の良い断面を短時間で得る事ができます。
クロスセクションポリッシャは金属、セラミックス、プラスチック等、様々な材料で断面加工をすることが可能です。

各種分析事例

  • 金属組織観察
  • 電子線マイクロアナライザー(EPMA)分析
  • メッキ厚さ測定・メッキ剥離試験

こうした調査に適用されます

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